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三豐數(shù)顯電子卡尺的基本檢驗及測量方式解析

更新時間:2020-08-20      點擊次數(shù):1054
   三豐數(shù)顯電子卡尺的測量方式可根據(jù)零點設定方法不同分為測量和相對測量:
  1.測量:設定零點后進行的測量;
  2.相對測量:設定相對零點后進行的測量。
  數(shù)顯電子卡尺相對零點設定用等于被測量工件標準尺寸的量塊(或其它標準件)夾在卡尺兩外量面間,在保持一定壓力(等于測量力)同時清零(如此便消除了數(shù)顯卡尺原來在該尺寸的示值誤差)。相對測量時,只顯示被測工件尺寸與標準尺寸的差值,測量結(jié)果更準確。
  數(shù)顯電子卡尺檢驗項目和檢驗方法,對判斷數(shù)顯卡尺質(zhì)量優(yōu)劣適用:
  1.外觀
  無銹斑、碰傷、毛刺,邊角倒鈍(手感無刺激),外形整齊,外觀清潔;無剩磁(量爪端不吸引小鐵件如大頭針、別針);
  2.量面
  外量面(測量軸直徑用)粗糙度Ra0.2(其它量面Ra0.4),邊緣無毛刺(手指摸),合攏不透光;量爪平齊,無碰傷彎勾(目力觀察);
  3.顯示
  啟動電源,數(shù)字顯示清楚完整(不缺筆劃),各按鍵功能正常;
  4.側(cè)向間隙
  尺框槽與尺身寬度方向的配合間隙,此間隙越小越好(應接近零)。此項要求比較重要。檢驗時面對顯示屏并使尺頭朝上,使兩外量面張開約20mm,右手抓尺身頭部,左手抓尺框外量爪并用力左右推拉,靠近耳聽應無撞擊聲;或目力觀察尺框槽與尺身基面(靠近外量爪的尺身窄側(cè)面)接觸處,應無目力所見之間隙變化。

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